میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا

دسته: مهندسی پزشکی
میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا

این کتاب چهارمین ویرایش جدید از این متن استاندارد در مورد میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح اتمی (TEM) می‌باشد که اطلاعات سابق در اصول اپتیک الکترونی و اصلاح نقص، تئوری تصویربرداری خطی (شامل انحرافات موج تا مرتبه پنجم) همراه با انسجام نسبی و تئوری پراکندگی چندگانه را حفظ کرده است. همچنین بخش‌های پیشین در مورد روش‌های عملی با دلایل مفصل گام‌به‌گام از مراحل مورد نیاز برای به‌دست آوردن تصاویر با بالاترین کیفیت از اتم‌ها و مولکول‌ها با استفاده از یک TEM مدرن یا میکروسکوپ الکترونی STEM، حفظ و به‌روزرسانی شده است.
سال انتشار: 2013  |  تعداد صفحات: 427  |  حجم فایل: 5.48 مگابایت  |  زبان: انگلیسی

High-Resolution Electron Microscopy, 4th Edition
نویسنده:
John C. H. Spence
ناشر:
Oxford University Press
ISBN10:
0199668639
ISBN13:
9780199668632

 

قیمت: 4000 تومان

خرید کتاب توسط کلیه کارت های شتاب امکان پذیر است و بلافاصله پس از خرید، لینک دانلود فایل کتاب در اختیار شما قرار خواهد گرفت.
This new fourth edition of the standard text on atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) retains previous material on the fundamentals of electron optics and aberration correction, linear imaging theory (including wave aberrations to fifth order) with partial coherence, and multiple-scattering theory. Also preserved are updated earlier sections on practical methods, with detailed step-by-step accounts of the procedures needed to obtain the highest quality images of atoms and molecules using a modern TEM or STEM electron microscope. Applications sections have been updated – these include the semiconductor industry, superconductor research, solid state chemistry and nanoscience, and metallurgy, mineralogy, condensed matter physics, materials science and material on cryo-electron microscopy for structural biology. New or expanded sections have been added on electron holography, aberration correction, field-emission guns, imaging filters, super-resolution methods, Ptychography, Ronchigrams, tomography, image quantification and simulation, radiation damage, the measurement of electron-optical parameters, and detectors (CCD cameras, Image plates and direct-injection solid state detectors). The theory of Scanning transmission electron microscopy (STEM) and Z-contrast are treated comprehensively. Chapters are devoted to associated techniques, such as energy-loss spectroscopy, Alchemi, nanodiffraction, environmental TEM, twisty beams for magnetic imaging, and cathodoluminescence. Sources of software for image interpretation and electron-optical design are given.


محصولات مرتبط محصولات مرتبط


ارسال دیدگاه


 (الزامی)  (الزامی)
ایمیل شما نزد مدیر سایت محفوظ بوده و برای عموم نمایش داده نخواهد شد.