این کتاب مروری فشرده بر کریستالوگرافی، تقارن و کاربردهای مفاهیم تقارن ارائه میدهد. نویسنده نظریه پراکندگی و پراش تابش الکترومغناطیسی را توضیح میدهد. پراش پرتو ایکس روی تک بلورها و همچنین ارزیابی کمی الگوهای پودر مورد بحث قرار گرفته است.
سال انتشار: 2022 | تعداد صفحات: 250 | حجم فایل: 61.28 مگابایت | زبان: انگلیسی
X-Ray Structure Analysis (De Gruyter Textbook)
نویسنده
Theo Siegrist
ناشر
Theo Siegrist
ISBN10:
3110610701
ISBN13:
9783110610703
