نسل جدید HALT و HASS

دسته: مهندسی برق
نسل جدید HALT و HASS

کتاب «نسل جدید HALT و HASS» یک جابجایی پارادایم بزرگ از روش‌های قابل اعتماد مبتنی بر پیش‌بینی تا کشف ریسک‌های قابلیت اطمینان سیستم‌های الکترونیک را ارائه می‌دهد.
این کتاب حاصل یکپارچه‌سازی آزمایش HALT و HASS با محصول قوی مبتنی بر فیزیک شکست و متدلوژی توسعه فرآیند می‌باشد.
از ویژگی‌های کتاب «نسل جدید HALT و HASS» می‌توان به موارد زیر اشاره کرد:
ارائه یک پایه شفاف برای حرکت از مدل‌های پیش‌بینی قابلیت اطمینان آماری تا روش‌های عملی ضمانت و بهبود قابلیت اطمینان. چالش‌های موجود روش‌های پیش‌بینی شکست با توجه ویژه بر محدودیت‌های آنها با استفاده از داده‌های میدانی واقعی
شرح یک رویکرد کاربردی برای چرایی و چگونگی استفاده از HALT و HASS در سیستم‌های الکترونیکی و الکترومکانیکی
راهنمای مهندسان و مدیران درزمینه مزایای روش‌های قطعی و کارآمدتر HALT و HASS
و بسیاری موارد دیگر
سال انتشار: 2016  |  تعداد صفحات: 296  |  حجم فایل: 10.72 مگابایت  |  زبان: انگلیسی

Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems
نویسنده:
Kirk A. Gray, John J. Paschkewitz
ناشر:
Wiley
ISBN10:
1118700236
ISBN13:
9781118700235

 

قیمت: 4000 تومان

خرید کتاب توسط کلیه کارت های شتاب امکان پذیر است و بلافاصله پس از خرید، لینک دانلود فایل کتاب در اختیار شما قرار خواهد گرفت.

Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks. This is achieved by integrating highly accelerated life test (HALT) and highly accelerated stress screen (HASS) into a physics-of-failure-based robust product and process development methodology.   The new methodologies challenge misleading and sometimes costly mis-application of probabilistic failure prediction methods (FPM) and provide a new deterministic map for reliability development. The authors clearly explain the new approach with a logical progression of problem statement and solutions.
The book helps engineers employ HALT and HASS by illustrating why the misleading assumptions used for FPM are invalid. Next, the application of HALT and HASS empirical discovery methods to quickly find unreliable elements in electronics systems gives readers practical insight to the techniques.
The physics of HALT and HASS methodologies are highlighted, illustrating how they uncover and isolate software failures due to hardware-software interactions in digital systems.  The use of empirical operational stress limits for the development of future tools and reliability discriminators is described. 
 Key features:
* Provides a clear basis for moving from statistical reliability prediction models to practical methods of insuring and improving reliability.
* Challenges existing failure prediction methodologies by highlighting their limitations using real field data.
* Explains a practical approach to why and how HALT and HASS are applied to electronics and electromechanical systems.
* Presents opportunities to develop reliability test discriminators for prognostics using empirical stress limits.
* Guides engineers and managers on the benefits of the deterministic and more efficient methods of HALT and HASS.
* Integrates the empirical limit discovery methods of HALT and HASS into a physics of failure based robust product and process development process.



محصولات مرتبط محصولات مرتبط




















ارسال دیدگاه


 (الزامی)  (الزامی)
ایمیل شما نزد مدیر سایت محفوظ بوده و برای عموم نمایش داده نخواهد شد.